Nikon Metrology 的新探测器评估包符合 ASTM E2737，独特地提供了图像数据的自动分析和性能趋势分析。
整个制造业的安全标准变得越来越严格，特别是在航空航天和汽车行业。使用 X 射线 CT（计算机断层扫描）对这些和其他行业的安全关键部件进行非破坏性测试的公司越来越多地被要求或可能只是希望尽一切努力证明其检查结果的准确性。
数字 X 射线检测器的状况尤其会对显示和测量特征的效率和准确性产生相当大的影响，因此能够随时间评估和跟踪其性能至关重要。为了帮助 Nikon Metrology 的 X 射线 CT 系统用户在整个服务过程中检查其检测器性能，该公司推出了一种新的监控套件，提供市场领先的功能符合全球公认标准 ASTM E2737 的真实性和简单性。
新的 ASTM E2737 检测器评估包适用于 Nikon Metrology 的所有 X 射线 CT 检查、计量学和大包络 CT 系统.支持制造商的所有 X 射线源，包括旋转靶技术和世界上唯一的 450kV 微焦点源，此外还有全系列的行业领先的探测器。
该软件包附带一个预校准工件称为 5 槽楔形模体和易于安装的定制支架，带有快速更换适配器，使操作员能够将模体固定在正确的位置。
专用软件执行所有必要的功能，包括工件处理、图像收集和数据分析；自动快速地创建详细报告。流线型的工作流程减轻了操作员的手动干预，并将程序降低到可以控制的程度由对 ASTM E2737 或 X 射线 CT 知之甚少的操作员进行。
获得了九个探测器参数的数据：空间分辨率、对比灵敏度、材料厚度范围、信噪比、信号电平、图像老化、图像滞后、偏移值和不良像素分布。
探测器的长期性能和稳定性可以在其整个使用寿命期间进行跟踪，并且与用户-定义的基线和可定制的阈值和警告。每次进行一组测量时，所有九项 ASTM E2737 测试的结果都会被存储，以便随时查询。结果的图形和表格显示有助于可视化。
从图像采集到最终报告创建的自动化工作流程以及强大的趋势分析功能，使 Nikon Metrology ASTM E2737 独一无二。
能够根据国际标准随时间跟踪检测器性能d 以一种简单的方式，对于依赖计算机断层扫描来控制其产品质量并优化其生产流程作为其工业 4.0 计划的一部分的公司来说特别有好处。
