Nikon Metrology 于 2021 年 5 月 26 日宣布，其工业微焦点 X 射线 CT 检测解决方案现已通过新的偏移 CT 重建算法得到增强，以提供更好的扫描速度和图像分辨率。
使用 X 时射线 CT（计算机断层扫描）用于大型部件（如铝铸件或电动汽车电池模块）的无损质量控制，面临的挑战是在不影响分辨率的情况下缩短检测周期时间。实现这一目标的一个先决条件是高 X 射线强度或通量。
XT H 225、XT H 225 ST 2x、MCT 和 XT H 320 系列为 2D X 射线和 3D 计算机断层扫描 (CT) 提供可定制的解决方案应用在 Nikon Metrology 的 X 射线 CT 系统系列中，对于给定的焦斑尺寸，旋转目标已经可以将通量增加三倍，并且通量可以进一步增加 by 电动 FID（焦点到成像器的距离），只需按一下按钮即可使探测器更接近源。
随着制造商最新版本的新偏移 CT 重建算法的发布据该公司称，Inspect-X 软件不仅可以扫描更大的组件，还可以在更高的几何放大倍数下执行。 Offset.CT 模块适用于从 180kV 到 450kV 的所有 Nikon Metrology X 射线 CT 系统。
结合最新的 Rotating.Target 2.0、可调 FID 和 Offset.CT，循环时间缩短
Offset.CT 扫描提高了小型或大型部件成像时的分辨率
Offset.CT 是一种允许检查小型或大型部件的扫描方法完全旋转，而只有部分样品在旋转过程中处于视野 (FOV) 内。放置组件时，只有刚好超过一半的物体位于 X 射线锥形范围内束，允许更宽的 FOV 和重建体积。
与传统 CT 相比，这对组件检测有两个主要好处。首先，无需使用更大的 CT 机器即可扫描更大的组件，甚至比探测器本身更宽的组件。其次，它允许将组件放置得更靠近 X 射线源，从而允许更高的放大倍数，从而显着提高体素分辨率。因此，可以以高分辨率扫描更大范围的样品尺寸。
源到检测器距离调整的优势
可调整的 FID 是 Nikon Metrology 225kV XT H 系统的标准功能，并且高达 450kV 的大包络 CT 系统。使用电动 FID 功能缩短源和检测器之间的距离的好处是增加了 X 射线通量。它用于提高信噪比 (SNR) 和数字射线照片和 3D 体素数据的图像质量，此外还允许增加据该公司称，sed 扫描速度。
旋转目标使功率增加三倍
Nikon Metrology 的 Rotating.Target 2.0 能够产生三倍强大的 X 射线给定微焦点尺寸，而不降低图像分辨率。扫描时间因此更短和/或可以穿透更密集的样品。 Rotating.Target 2.0 的最大电压为 225kV，最大功率为 450W，但对于更大和更密集的组件，可以使用微焦点 450kV 旋转靶 X 射线源。
